Schlüssellöschung im Sub-Mikrosekundenbereich bei Erkennung eines physischen Eindringens
Erkennung physischer Eindringversuche — einschließlich Bohrlöchern, Laserangriffen und Entfernen des Gehäuses — und Auslösen der Hardware-Zeroization-Leitungen.
Aktive Serpentinen-Gehäuseabschirmungen
Die kontinuierliche Durchgangsüberwachung über serpentinenförmige Siliziumleiterbahnen erkennt mikroskopisch kleine physische Schnitte und löscht den batteriegepufferten NVRAM innerhalb von Nanosekunden.
- Physische Manipulationserkennung nach den Kriterien von FIPS 140-3 Level 4.
- Aktive Silizium-Schutzleiterbahnen mit pseudozufälligen Testsignalen.
- Schlüsselzerstörung im batteriegepufferten NVRAM in unter einer Mikrosekunde.
- Umgebungssensoren zur Erkennung von Cold-Boot-Versuchen mit flüssigem Stickstoff.
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